测试座/适配座的寿命
集成电路老化测试座该产品用于科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用: 产品型号及规格; IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J(K)宽跨度、IC-40J主要技术指标; 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+155℃ 绝缘电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;2umAu:lu(镍金) 插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次。
TO封装集成电路老化测试插座该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺,该插座耐高温、绝缘性能好,经久耐用,深受用户的欢迎。 产品型号及规格; TO-4、6、8、10、12 主要技术指标; 环境温度;-20℃—+255℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 磷青铜管镀银层厚度;1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命;2000-3000次。
IC集成电路老化测试座(DIP封装) 详细介绍:
集成电路老化测试座该系列夹具适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于科研院所、电子、通讯产品型号及规格; IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J(K)宽跨度、IC-40J 主要技术指标; 间距;2.54mm环境温度;-55℃—+155℃ 接触电阻;≤0.01欧工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍2um金插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次。
IC老化测试座:
该产品用于科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用:
产品型号及规格;
IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J(K)宽跨度、IC-40J
主要技术指标;
间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+155℃
绝缘电阻;≤0.01欧工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;2umAu:lu(镍金)
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次