编号 | pin数 | pin距 | 备注 |
QFP-32-0.8-01 | 32 | 0.8 | |
QFP-48-0.5-01 | 48 | 0.5 | |
QFP-64-0.5-01 | 64 | 0.5 | |
QFP-100-0.5-01 | 100 | 0.5 | |
接触力 | 弹簧 | 产品详细参数图纸PDF: | 点击查看 |
15克-180克在0.2毫米-0.9毫米之间的接触距离 | 不锈钢,钝化 |
绝缘阻抗 | DC 100V 1000MΩ以上 |
耐 电 压 | AC 700V 在一分钟内无异常 |
接触阻抗 | 测定电流10mA开放端电压20mV以下,30mΩ以下 |
使用温度 | -65°C~+150°C |
使用寿命 | 100000次以上 |
测 试 座 | PEI |
端子内层 | 铍铜 |
端子表面选择性镀金,镀镍底覆盖 |
Part Name | Pin Count | IC Body A×B |
IC Tip to Tip C×D |
Paralle Clamp M |
IC Height E |
Socket Dim G×H |
Type |
QFP-32-0.8-0.1-JRS | 32 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.7 | 1.4 | 30×40.5 | CL |
QFP-48-0.5-0.1-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.5 | 1.4 | 29×37 | CL |
QFP-64-0.5-0.1-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | 11.6 | 1.4 | 32×40 | CL |
QFP-100-0.5-0.1-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | 15.4 | 1.5 | 36×44 | CL |
QFP-48-0.5-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | / | 1.4 | 24×24 | DT |
QFP-64-0.5-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | / | 1.4 | 27×27 | DT |
QFP-80-0.5-JRS | 80 | 12.6×12.6 | 14×14 | / | 1.4 | 29×29 | DT |
QFP-100-0.5-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | / | 1.5 | 31×31 | DT |
*CL=翻盖式 OT=下压式
1.产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
2.胶体使用PEI&PES耐高低温(-55 到+170度)
4.金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50度+900度)和优良的导电性。
5.使用寿命达10万次。
•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构,采用一次性开模成型,品质好,寿命10万次以上。
*座子和PCB板有两种连接方式:
1接触(顶板式,*完全取代探针结构测试座)
2焊接
•采用浮板结构,有效的保护针,针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。
对于1C有球无球都能测试
郡仁司(JRS )是国内一家自主研发、生产、销售1C测试,烧录,老化的企此,打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。
公司自2006年成立以来,一直致力于为1C测试,烧录,老化行业提供增值服努。
我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯,汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。
公司经过多年发展,累积了丰富的经验及良好的口碑。
主要产品:BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等,同时可根据不同客户的特殊需求,提供高品质的测试插座定制服努。
编号 | pin数 | pin距 | 备注 |
QFP-32-0.8-01 | 32 | 0.8 | |
QFP-48-0.5-01 | 48 | 0.5 | |
QFP-64-0.5-01 | 64 | 0.5 | |
QFP-100-0.5-01 | 100 | 0.5 | |
接触力 | 弹簧 | 产品详细参数图纸PDF: | 点击查看 |
15克-180克在0.2毫米-0.9毫米之间的接触距离 | 不锈钢,钝化 |
绝缘阻抗 | DC 100V 1000MΩ以上 |
耐 电 压 | AC 700V 在一分钟内无异常 |
接触阻抗 | 测定电流10mA开放端电压20mV以下,30mΩ以下 |
使用温度 | -65°C~+150°C |
使用寿命 | 100000次以上 |
测 试 座 | PEI |
端子内层 | 铍铜 |
端子表面选择性镀金,镀镍底覆盖 |
Part Name | Pin Count | IC Body A×B |
IC Tip to Tip C×D |
Paralle Clamp M |
IC Height E |
Socket Dim G×H |
Type |
QFP-32-0.8-0.1-JRS | 32 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.7 | 1.4 | 30×40.5 | CL |
QFP-48-0.5-0.1-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.5 | 1.4 | 29×37 | CL |
QFP-64-0.5-0.1-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | 11.6 | 1.4 | 32×40 | CL |
QFP-100-0.5-0.1-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | 15.4 | 1.5 | 36×44 | CL |
QFP-48-0.5-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | / | 1.4 | 24×24 | DT |
QFP-64-0.5-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | / | 1.4 | 27×27 | DT |
QFP-80-0.5-JRS | 80 | 12.6×12.6 | 14×14 | / | 1.4 | 29×29 | DT |
QFP-100-0.5-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | / | 1.5 | 31×31 | DT |
*CL=翻盖式 OT=下压式
1.产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
2.胶体使用PEI&PES耐高低温(-55 到+170度)
4.金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50度+900度)和优良的导电性。
5.使用寿命达10万次。
•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构,采用一次性开模成型,品质好,寿命10万次以上。
*座子和PCB板有两种连接方式:
1接触(顶板式,*完全取代探针结构测试座)
2焊接
•采用浮板结构,有效的保护针,针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。
对于1C有球无球都能测试
郡仁司(JRS )是国内一家自主研发、生产、销售1C测试,烧录,老化的企此,打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。
公司自2006年成立以来,一直致力于为1C测试,烧录,老化行业提供增值服努。
我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯,汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。
公司经过多年发展,累积了丰富的经验及良好的口碑。
主要产品:BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等,同时可根据不同客户的特殊需求,提供高品质的测试插座定制服努。
联系人:张彦
手机:13537731585
电话:0769-82885016
邮件:3075888589@qq.com
地址:广东省东莞市虎门镇怀德社区芦狄埔厂区34号厂房