| 编号 | 型号 | pin数 | 编号 | 型号 | pin数 | pin距 |
| 双排双pin | 单排单pin | |||||
| 1 | QFN16-0.4(3.0X3.0) | 16 | 19 | QFN20-0.4(3.0X3.0) | 20 | 0.4 |
| 2 | QFN32-0.4(4.0X4.0) | 32 | 20 | QFN28-0.4(4.0X4.0) | 28 | 0.4 |
| 3 | QFN40-0.4(5.0X5.0) | 40 | 21 | QFN36-0.4(5.0X5.0) | 36 | 0.4 |
| 4 | QFN48-0.4(6.0X6.0) | 48 | 22 | QFN52-0.4(6.0X6.0) | 52 | 0.4 |
| 5 | QFN56-0.4(7.0X7.0) | 56 | 23 | QFN60-0.4(7.0X7.0) | 60 | 0.4 |
| 6 | QFN64-0.4(8.0X8.0) | 64 | 24 | QFN68-0.4(8.0X8.0) | 68 | 0.4 |
| 7 | QFN80-0.4(9.0X9.0) | 80 | 25 | QFN76-0.4(9.0X9.0) | 76 | 0.4 |
| 8 | QFN88-0.4(10X10) | 88 | 26 | QFN92-0.4(10X10) | 92 | 0.4 |
| 9 | QFN104-0.4(12X12) | 104 | 27 | QFN108-0.4(12X12) | 108 | 0.4 |
| 10 | QFN16-0.5(3.0X3.0) | 16 | 28 | QFN12-0.5(3.0X3.0) | 12 | 0.5 |
| 11 | QFN24-0.5(4.0X4.0) | 24 | 29 | QFN20-0.5(4.0X4.0) | 20 | 0.5 |
| 12 | QFN32-0.5(5.0X5.0) | 32 | 30 | QFN28-0.5(5.0X5.0) | 28 | 0.5 |
| 13 | QFN40-0.5(6.0X6.0) | 40 | 31 | QFN36-0.5(6.0X6.0) | 36 | 0.5 |
| 14 | QFN48-0.5(7.0X7.0) | 48 | 32 | QFN44-0.5(7.0X7.0) | 44 | 0.5 |
| 15 | QFN56-0.5(8.0X8.0) | 56 | 33 | QFN52-0.5(8.0X8.0) | 52 | 0.5 |
| 16 | QFN64-0.5(9.0X9.0) | 64 | 34 | QFN60-0.5(9.0X9.0) | 60 | 0.5 |
| 17 | QFN72-0.5(10X10) | 72 | 35 | QFN68-0.5(10X10) | 68 | 0.5 |
| 18 | QFN88-0.5(12X12) | 88 | 36 | QFN84-0.5(12X12) | 84 | 0.5 |
| 接触力 | 弹簧 | |||||
| 35g每Pin(正常) | 不锈钢，钝化 | |||||
| 绝缘阻抗 | DC 100V 1000MΩ以上 |
| 耐 电 压 | AC100V在一分钟内无异常 |
| 接触阻抗 | 测定电流10mA开放端电压20mV以下，100MΩ以下 |
| 使用温度 | -40°C~+150°C |
| 使用寿命 | 100000次以上 |
| 测 试 座 | PEI |
| 端子内层 | 铍铜 |
| 端子表面选择性镀金，镀镍底覆盖 | |
| Part Name | Pin Count | IC Body A×B |
IC Tip to Tip C×D |
Paralle Clamp M |
IC Height E |
Socket Dim G×H |
Type |
| QFP-32-0.8-0.1-JRS | 32 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.7 | 1.4 | 30×40.5 | CL |
| QFP-48-0.5-0.1-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.5 | 1.4 | 29×37 | CL |
| QFP-64-0.5-0.1-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | 11.6 | 1.4 | 32×40 | CL |
| QFP-100-0.5-0.1-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | 15.4 | 1.5 | 36×44 | CL |
| QFP-48-0.5-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | / | 1.4 | 24×24 | DT |
| QFP-64-0.5-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | / | 1.4 | 27×27 | DT |
| QFP-80-0.5-JRS | 80 | 12.6×12.6 | 14×14 | / | 1.4 | 29×29 | DT |
| QFP-100-0.5-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | / | 1.5 | 31×31 | DT |
*CL=翻盖式 OT=下压式
1.产品结构&电气性能稳定，使用操作简便。
2.胶体使用PEI&PES耐高低温（-55 到+170度）
4.金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50度+900度）和优良的导电性。
5.使用寿命达10万次。
•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构，采用一次性开模成型，品质好，寿命10万次以上。
*座子和PCB板有两种连接方式：
1接触（顶板式，*完全取代探针结构测试座）
2焊接
•采用浮板结构，有效的保护针，针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。
对于1C有球无球都能测试
是国内一家自主研发、生产、销售1C测试，烧录，老化的企此，打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。
公司自2006年成立以来，一直致力于为1C测试，烧录，老化行业提供增值服努。
我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯，汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。
公司经过多年发展，累积了丰富的经验及良好的口碑。
主要产品：BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等，同时可根据不同客户的特殊需求，提供高品质的测试插座定制服努。
| 编号 | 型号 | pin数 | 编号 | 型号 | pin数 | pin距 |
| 双排双pin | 单排单pin | |||||
| 1 | QFN16-0.4(3.0X3.0) | 16 | 19 | QFN20-0.4(3.0X3.0) | 20 | 0.4 |
| 2 | QFN32-0.4(4.0X4.0) | 32 | 20 | QFN28-0.4(4.0X4.0) | 28 | 0.4 |
| 3 | QFN40-0.4(5.0X5.0) | 40 | 21 | QFN36-0.4(5.0X5.0) | 36 | 0.4 |
| 4 | QFN48-0.4(6.0X6.0) | 48 | 22 | QFN52-0.4(6.0X6.0) | 52 | 0.4 |
| 5 | QFN56-0.4(7.0X7.0) | 56 | 23 | QFN60-0.4(7.0X7.0) | 60 | 0.4 |
| 6 | QFN64-0.4(8.0X8.0) | 64 | 24 | QFN68-0.4(8.0X8.0) | 68 | 0.4 |
| 7 | QFN80-0.4(9.0X9.0) | 80 | 25 | QFN76-0.4(9.0X9.0) | 76 | 0.4 |
| 8 | QFN88-0.4(10X10) | 88 | 26 | QFN92-0.4(10X10) | 92 | 0.4 |
| 9 | QFN104-0.4(12X12) | 104 | 27 | QFN108-0.4(12X12) | 108 | 0.4 |
| 10 | QFN16-0.5(3.0X3.0) | 16 | 28 | QFN12-0.5(3.0X3.0) | 12 | 0.5 |
| 11 | QFN24-0.5(4.0X4.0) | 24 | 29 | QFN20-0.5(4.0X4.0) | 20 | 0.5 |
| 12 | QFN32-0.5(5.0X5.0) | 32 | 30 | QFN28-0.5(5.0X5.0) | 28 | 0.5 |
| 13 | QFN40-0.5(6.0X6.0) | 40 | 31 | QFN36-0.5(6.0X6.0) | 36 | 0.5 |
| 14 | QFN48-0.5(7.0X7.0) | 48 | 32 | QFN44-0.5(7.0X7.0) | 44 | 0.5 |
| 15 | QFN56-0.5(8.0X8.0) | 56 | 33 | QFN52-0.5(8.0X8.0) | 52 | 0.5 |
| 16 | QFN64-0.5(9.0X9.0) | 64 | 34 | QFN60-0.5(9.0X9.0) | 60 | 0.5 |
| 17 | QFN72-0.5(10X10) | 72 | 35 | QFN68-0.5(10X10) | 68 | 0.5 |
| 18 | QFN88-0.5(12X12) | 88 | 36 | QFN84-0.5(12X12) | 84 | 0.5 |
| 接触力 | 弹簧 | |||||
| 35g每Pin(正常) | 不锈钢，钝化 | |||||
| 绝缘阻抗 | DC 100V 1000MΩ以上 |
| 耐 电 压 | AC100V在一分钟内无异常 |
| 接触阻抗 | 测定电流10mA开放端电压20mV以下，100MΩ以下 |
| 使用温度 | -40°C~+150°C |
| 使用寿命 | 100000次以上 |
| 测 试 座 | PEI |
| 端子内层 | 铍铜 |
| 端子表面选择性镀金，镀镍底覆盖 | |
| Part Name | Pin Count | IC Body A×B |
IC Tip to Tip C×D |
Paralle Clamp M |
IC Height E |
Socket Dim G×H |
Type |
| QFP-32-0.8-0.1-JRS | 32 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.7 | 1.4 | 30×40.5 | CL |
| QFP-48-0.5-0.1-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | 8.5 | 1.4 | 29×37 | CL |
| QFP-64-0.5-0.1-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | 11.6 | 1.4 | 32×40 | CL |
| QFP-100-0.5-0.1-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | 15.4 | 1.5 | 36×44 | CL |
| QFP-48-0.5-JRS | 48 | 7.6×7.6 | 9×9 | / | 1.4 | 24×24 | DT |
| QFP-64-0.5-JRS | 64 | 10×10 | 12×12 | / | 1.4 | 27×27 | DT |
| QFP-80-0.5-JRS | 80 | 12.6×12.6 | 14×14 | / | 1.4 | 29×29 | DT |
| QFP-100-0.5-JRS | 100 | 14×14 | 16×16 | / | 1.5 | 31×31 | DT |
*CL=翻盖式 OT=下压式
1.产品结构&电气性能稳定，使用操作简便。
2.胶体使用PEI&PES耐高低温（-55 到+170度）
4.金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50度+900度）和优良的导电性。
5.使用寿命达10万次。
•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构，采用一次性开模成型，品质好，寿命10万次以上。
*座子和PCB板有两种连接方式：
1接触（顶板式，*完全取代探针结构测试座）
2焊接
•采用浮板结构，有效的保护针，针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。
对于1C有球无球都能测试
是国内一家自主研发、生产、销售1C测试，烧录，老化的企此，打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。
公司自2006年成立以来，一直致力于为1C测试，烧录，老化行业提供增值服努。
我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯，汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。
公司经过多年发展，累积了丰富的经验及良好的口碑。
主要产品：BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等，同时可根据不同客户的特殊需求，提供高品质的测试插座定制服努。
联系人：张彦
手机：13537731585
电话：0769-82885016
邮件：3075888589@qq.com
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