QFP48-0.5翻盖烧录座

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描述

详情说明
性能介绍
关于我们

产品参数

编号	pin数	pin距	备注
QFP-32-0.8-01	32	0.8
QFP-48-0.5-01	48	0.5
QFP-64-0.5-01	64	0.5
QFP-100-0.5-01	100	0.5
接触力	弹簧	产品详细参数图纸PDF：	点击查看
15克-180克在0.2毫米-0.9毫米之间的接触距离	不锈钢，钝化	产品详细参数图纸PDF：	点击查看

参数图

产品性能

绝缘阻抗	DC 100V 1000MΩ以上
耐电压	AC 700V 在一分钟内无异常
接触阻抗	测定电流10mA开放端电压20mV以下，30mΩ以下
使用温度	-65°C~+150°C
使用寿命	100000次以上

材质和组件

测试座	PEI
端子内层	铍铜
端子表面选择性镀金，镀镍底覆盖

芯片尺寸

测试座尺寸

Part Name	Pin Count	IC Body A×B	IC Tip to Tip C×D	Paralle Clamp M	IC Height E	Socket Dim G×H	Type
QFP-32-0.8-0.1-JRS	32	7.6×7.6	9×9	8.7	1.4	30×40.5	CL
QFP-48-0.5-0.1-JRS	48	7.6×7.6	9×9	8.5	1.4	29×37	CL
QFP-64-0.5-0.1-JRS	64	10×10	12×12	11.6	1.4	32×40	CL
QFP-100-0.5-0.1-JRS	100	14×14	16×16	15.4	1.5	36×44	CL
QFP-48-0.5-JRS	48	7.6×7.6	9×9	/	1.4	24×24	DT
QFP-64-0.5-JRS	64	10×10	12×12	/	1.4	27×27	DT
QFP-80-0.5-JRS	80	12.6×12.6	14×14	/	1.4	29×29	DT
QFP-100-0.5-JRS	100	14×14	16×16	/	1.5	31×31	DT

*CL=翻盖式 OT=下压式

端子接触方式

QFP 0.5 0.8

1.产品结构&电气性能稳定，使用操作简便。

2.胶体使用PEI&PES耐高低温（-55 到+170度）

4.金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50度+900度）和优良的导电性。

5.使用寿命达10万次。

注意事项

•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构，采用一次性开模成型，品质好，寿命10万次以上。

*座子和PCB板有两种连接方式：
1接触（顶板式，*完全取代探针结构测试座）
2焊接

•采用浮板结构，有效的保护针，针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。

对于1C有球无球都能测试

郡仁司（JRS )

是国内一家自主研发、生产、销售1C测试，烧录，老化的企此，打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。

公司自2006年成立以来，一直致力于为1C测试，烧录，老化行业提供增值服努。

我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯，汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。

公司经过多年发展，累积了丰富的经验及良好的口碑。

主要产品：BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等，同时可根据不同客户的特殊需求，提供高品质的测试插座定制服努。